زیرلایه SiC با ضخامت 3 اینچ و ضخامت 350 میکرومتر، نوع HPSI، گرید Prime، گرید Dummy
خواص
پارامتر | درجه تولید | درجه تحقیق | درجه ساختگی | واحد |
درجه | درجه تولید | درجه تحقیق | درجه ساختگی | |
قطر | ۷۶.۲ ± ۰.۵ | ۷۶.۲ ± ۰.۵ | ۷۶.۲ ± ۰.۵ | mm |
ضخامت | ۵۰۰ ± ۲۵ | ۵۰۰ ± ۲۵ | ۵۰۰ ± ۲۵ | میکرومتر |
جهت گیری ویفر | در محور: <0001> ± 0.5 درجه | در محور: <0001> ± 2.0 درجه | در محور: <0001> ± 2.0 درجه | مدرک |
تراکم میکروپایپ (MPD) | ≤ ۱ | ≤ ۵ | ≤ ۱۰ | سانتیمتر−۲^-۲−۲ |
مقاومت الکتریکی | ≥ 1E10 | ≥ 1E5 | ≥ 1E5 | اهم·سانتیمتر |
دوپانت | بدون دوپینگ | بدون دوپینگ | بدون دوپینگ | |
جهت گیری اولیه مسطح | {1-100} ± 5.0 درجه | {1-100} ± 5.0 درجه | {1-100} ± 5.0 درجه | مدرک |
طول تخت اولیه | ۳۲.۵ ± ۳.۰ | ۳۲.۵ ± ۳.۰ | ۳۲.۵ ± ۳.۰ | mm |
طول تخت ثانویه | ۱۸.۰ ± ۲.۰ | ۱۸.۰ ± ۲.۰ | ۱۸.۰ ± ۲.۰ | mm |
جهت گیری مسطح ثانویه | ۹۰ درجه سانتیگراد از صفحه اصلی ± ۵.۰ درجه | ۹۰ درجه سانتیگراد از صفحه اصلی ± ۵.۰ درجه | ۹۰ درجه سانتیگراد از صفحه اصلی ± ۵.۰ درجه | مدرک |
حذف لبه | 3 | 3 | 3 | mm |
LTV/TTV/کمان/تار | ۳ / ۱۰ / ±۳۰ / ۴۰ | ۳ / ۱۰ / ±۳۰ / ۴۰ | ۵ / ۱۵ / ±۴۰ / ۴۵ | میکرومتر |
زبری سطح | سی-فیس: CMP، سی-فیس: صیقلی | سی-فیس: CMP، سی-فیس: صیقلی | سی-فیس: CMP، سی-فیس: صیقلی | |
ترکها (نور با شدت بالا) | هیچکدام | هیچکدام | هیچکدام | |
صفحات شش گوش (نور با شدت بالا) | هیچکدام | هیچکدام | مساحت تجمعی ۱۰٪ | % |
مناطق چند شکلی (نور با شدت بالا) | مساحت تجمعی ۵٪ | مساحت تجمعی 20٪ | مساحت تجمعی 30٪ | % |
خراشها (نور با شدت بالا) | ≤ ۵ خراش، طول تجمعی ≤ ۱۵۰ | ≤ ۱۰ خراش، طول تجمعی ≤ ۲۰۰ | ≤ ۱۰ خراش، طول تجمعی ≤ ۲۰۰ | mm |
لب پریدگی لبه | عرض/عمق ≥ 0.5 میلیمتر | ۲ مجاز ≤ ۱ میلیمتر عرض/عمق | ۵ مجاز ≤ ۵ میلیمتر عرض/عمق | mm |
آلودگی سطحی | هیچکدام | هیچکدام | هیچکدام |
کاربردها
۱. الکترونیک پرقدرت
رسانایی حرارتی برتر و شکاف باند وسیع ویفرهای SiC، آنها را برای دستگاههای با توان و فرکانس بالا ایدهآل میکند:
●MOSFETها و IGBTها برای تبدیل توان.
●سیستمهای پیشرفتهی برقرسانی به خودروهای برقی، شامل اینورترها و شارژرها.
●زیرساخت شبکه هوشمند و سیستمهای انرژی تجدیدپذیر.
۲. سیستمهای RF و مایکروویو
زیرلایههای SiC کاربردهای RF و مایکروویو با فرکانس بالا را با حداقل افت سیگنال امکانپذیر میکنند:
●سیستمهای مخابراتی و ماهوارهای.
●سیستمهای رادار هوافضا.
● اجزای پیشرفته شبکه 5G.
۳. الکترونیک نوری و حسگرها
خواص منحصر به فرد SiC از طیف وسیعی از کاربردهای اپتوالکترونیکی پشتیبانی میکند:
●آشکارسازهای فرابنفش برای پایش محیطی و حسگرهای صنعتی.
●زیرلایههای LED و لیزری برای روشنایی حالت جامد و ابزارهای دقیق.
●سنسورهای دمای بالا برای صنایع هوافضا و خودرو.
۴. تحقیق و توسعه
تنوع گریدها (تولیدی، تحقیقاتی، آزمایشی) امکان آزمایشهای پیشرفته و نمونهسازی اولیه دستگاهها را در دانشگاه و صنعت فراهم میکند.
مزایا
●قابلیت اطمینان:مقاومت و پایداری عالی در گریدهای مختلف.
● سفارشیسازی:جهتها و ضخامتهای سفارشی برای رفع نیازهای مختلف.
● خلوص بالا:ترکیب بدون دوپه، حداقل تغییرات مربوط به ناخالصی را تضمین میکند.
●مقیاسپذیری:الزامات تولید انبوه و تحقیقات تجربی را برآورده میکند.
ویفرهای SiC با خلوص بالای ۳ اینچی، دروازه شما به سوی دستگاههای با کارایی بالا و پیشرفتهای نوآورانه فناوری هستند. برای سوالات و مشخصات دقیق، همین امروز با ما تماس بگیرید.
خلاصه
ویفرهای کاربید سیلیکون (SiC) با خلوص بالا (3 اینچی) که در گریدهای تولیدی، تحقیقاتی و آزمایشی موجود هستند، زیرلایههای ممتازی هستند که برای الکترونیک پرقدرت، سیستمهای RF/مایکروویو، اپتوالکترونیک و تحقیق و توسعه پیشرفته طراحی شدهاند. این ویفرها دارای خواص نیمه عایق بدون آلایش با مقاومت ویژه عالی (≥1E10 Ω·cm برای گرید تولیدی)، چگالی میکروپایپ پایین (≤1 cm−2^-2−2) و کیفیت سطح استثنایی هستند. آنها برای کاربردهای با کارایی بالا، از جمله تبدیل توان، مخابرات، حسگری UV و فناوریهای LED بهینه شدهاند. این ویفرهای SiC با جهتگیریهای قابل تنظیم، رسانایی حرارتی برتر و خواص مکانیکی قوی، ساخت دستگاههای کارآمد و قابل اعتماد و نوآوریهای پیشگامانه را در صنایع مختلف امکانپذیر میکنند.
نمودار تفصیلی



