تمیزکاری مرطوب (Wet Clean) یکی از مراحل حیاتی در فرآیندهای تولید نیمههادی است که با هدف حذف آلایندههای مختلف از سطح ویفر انجام میشود تا اطمینان حاصل شود که مراحل بعدی فرآیند روی یک سطح تمیز انجام میشود.

با کوچکتر شدن اندازه دستگاههای نیمههادی و افزایش الزامات دقت، الزامات فنی فرآیندهای تمیز کردن ویفر به طور فزایندهای سختگیرانهتر شده است. حتی کوچکترین ذرات، مواد آلی، یونهای فلزی یا بقایای اکسید روی سطح ویفر میتوانند به طور قابل توجهی بر عملکرد دستگاه تأثیر بگذارند و در نتیجه بر بازده و قابلیت اطمینان دستگاههای نیمههادی تأثیر بگذارند.
اصول اصلی تمیز کردن ویفر
هسته اصلی تمیز کردن ویفر، حذف مؤثر آلایندههای مختلف از سطح ویفر از طریق روشهای فیزیکی، شیمیایی و سایر روشها است تا اطمینان حاصل شود که ویفر دارای سطح تمیز و مناسبی برای پردازشهای بعدی است.

نوع آلودگی
تأثیرات اصلی بر ویژگیهای دستگاه
آلودگی مقاله | نقصهای الگو
نقصهای کاشت یونی
نقصهای شکست لایه عایق
| |
آلودگی فلزی | فلزات قلیایی | ناپایداری ترانزیستور MOS
تجزیه/تخریب لایه اکسید گیت
|
فلزات سنگین | افزایش جریان نشتی معکوس اتصال PN
نقصهای شکست لایه اکسید گیت
تخریب طول عمر حاملهای اقلیت
تولید نقص لایه تحریک اکسیدی
| |
آلودگی شیمیایی | مواد آلی | نقصهای شکست لایه اکسید گیت
تغییرات فیلم CVD (زمان انکوباسیون)
تغییرات ضخامت لایه اکسید حرارتی (اکسیداسیون تسریع شده)
وقوع مه (ویفر، لنز، آینه، ماسک، رتیکل)
|
دوپانتهای معدنی (B، P) | ترانزیستور MOS Vth شیفت میکند
تغییرات مقاومت زیرلایه سیلیکونی و ورق پلی سیلیکونی با مقاومت بالا
| |
بازهای معدنی (آمینها، آمونیاک) و اسیدها (SOx) | تخریب تفکیکپذیری رزیستهای تقویتشده شیمیایی
وقوع آلودگی ذرات و مه به دلیل تولید نمک
| |
لایههای اکسید طبیعی و شیمیایی ناشی از رطوبت و هوا | افزایش مقاومت تماسی
تجزیه/تخریب لایه اکسید گیت
|
به طور خاص، اهداف فرآیند تمیز کردن ویفر شامل موارد زیر است:
حذف ذرات: استفاده از روشهای فیزیکی یا شیمیایی برای حذف ذرات کوچک چسبیده به سطح ویفر. حذف ذرات کوچکتر به دلیل نیروهای الکترواستاتیکی قوی بین آنها و سطح ویفر دشوارتر است و نیاز به عملیات ویژه دارد.
حذف مواد آلی: آلایندههای آلی مانند چربی و بقایای مواد مقاوم در برابر نور ممکن است به سطح ویفر بچسبند. این آلایندهها معمولاً با استفاده از عوامل اکسیدکننده قوی یا حلالها حذف میشوند.
حذف یون فلزی: باقیمانده یون فلزی روی سطح ویفر میتواند عملکرد الکتریکی را کاهش دهد و حتی بر مراحل بعدی پردازش تأثیر بگذارد. بنابراین، از محلولهای شیمیایی خاصی برای حذف این یونها استفاده میشود.
حذف اکسید: برخی فرآیندها نیاز دارند که سطح ویفر عاری از لایههای اکسیدی مانند اکسید سیلیکون باشد. در چنین مواردی، لایههای اکسید طبیعی باید طی مراحل تمیزکاری خاصی حذف شوند.
چالش فناوری تمیز کردن ویفر، حذف مؤثر آلایندهها بدون تأثیر منفی بر سطح ویفر، مانند جلوگیری از زبر شدن سطح، خوردگی یا سایر آسیبهای فیزیکی است.
2. جریان فرآیند تمیز کردن ویفر
فرآیند تمیز کردن ویفر معمولاً شامل چندین مرحله برای اطمینان از حذف کامل آلایندهها و دستیابی به یک سطح کاملاً تمیز است.

شکل: مقایسه بین تمیز کردن دستهای و تمیز کردن تک ویفر
یک فرآیند تمیز کردن ویفر معمولی شامل مراحل اصلی زیر است:
۱. پیش تمیزکاری (پیش تمیزکاری)
هدف از پیشتمیزکاری، حذف آلایندههای سست و ذرات بزرگ از سطح ویفر است که معمولاً از طریق شستشو با آب دیونیزه (DI Water) و تمیز کردن اولتراسونیک حاصل میشود. آب دیونیزه میتواند در ابتدا ذرات و ناخالصیهای محلول را از سطح ویفر حذف کند، در حالی که تمیز کردن اولتراسونیک از اثرات کاویتاسیون برای شکستن پیوند بین ذرات و سطح ویفر استفاده میکند و جدا کردن آنها را آسانتر میکند.
۲. تمیز کردن شیمیایی
تمیزکاری شیمیایی یکی از مراحل اصلی در فرآیند تمیزکاری ویفر است که با استفاده از محلولهای شیمیایی، مواد آلی، یونهای فلزی و اکسیدها را از سطح ویفر حذف میکند.
حذف مواد آلی: معمولاً از استون یا مخلوط آمونیاک/پراکسید (SC-1) برای حل کردن و اکسید کردن آلایندههای آلی استفاده میشود. نسبت معمول برای محلول SC-1، NH₄OH است.
₂O₂
₂O = 1:1:5، با دمای کاری حدود 20 درجه سانتیگراد.
حذف یون فلزی: مخلوطهای اسید نیتریک یا اسید هیدروکلریک/پراکسید (SC-2) برای حذف یونهای فلزی از سطح ویفر استفاده میشوند. نسبت معمول برای محلول SC-2، HCl است.
₂O₂
₂O = 1:1:6، با دمای تقریباً 80 درجه سانتیگراد.
حذف اکسید: در برخی فرآیندها، حذف لایه اکسید بومی از سطح ویفر مورد نیاز است که برای این کار از محلول اسید هیدروفلوئوریک (HF) استفاده میشود. نسبت معمول برای محلول HF، HF است.
₂O = 1:50، و میتوان آن را در دمای اتاق استفاده کرد.
۳. تمیزکاری نهایی
پس از تمیز کردن شیمیایی، ویفرها معمولاً یک مرحله تمیز کردن نهایی را طی میکنند تا اطمینان حاصل شود که هیچ گونه باقیمانده شیمیایی روی سطح باقی نمانده است. تمیز کردن نهایی عمدتاً از آب دیونیزه برای شستشوی کامل استفاده میکند. علاوه بر این، تمیز کردن با آب ازن (O₃/H₂O) برای حذف بیشتر هرگونه آلودگی باقی مانده از سطح ویفر استفاده میشود.
۴. خشک کردن
ویفرهای تمیز شده باید به سرعت خشک شوند تا از ایجاد واترمارک یا اتصال مجدد آلایندهها جلوگیری شود. روشهای رایج خشک کردن شامل خشک کردن چرخشی و تصفیه نیتروژنی است. روش اول با چرخش با سرعت بالا رطوبت را از سطح ویفر حذف میکند، در حالی که روش دوم با دمیدن گاز نیتروژن خشک در سراسر سطح ویفر، خشک شدن کامل را تضمین میکند.
آلاینده
نام روش تمیز کردن
شرح مخلوط شیمیایی
مواد شیمیایی
ذرات | پیرانا (SPM) | اسید سولفوریک/پراکسید هیدروژن/آب دیونیزه | H2SO4/H2O2/H2O 3-4:1؛ 90 درجه سانتیگراد |
SC-1 (APM) | هیدروکسید آمونیوم/پراکسید هیدروژن/آب دیونیزه | NH4OH/H2O2/H2O 1:4:20؛ 80 درجه سانتیگراد | |
فلزات (غیر از مس) | SC-2 (HPM) | اسید هیدروکلریک/پراکسید هیدروژن/آب دیونیزه | HCl/H2O2/H2O1:1:6؛ ۸۵ درجه سانتیگراد |
پیرانا (SPM) | اسید سولفوریک/پراکسید هیدروژن/آب دیونیزه | H2SO4/H2O2/H2O3-4:1؛ 90 درجه سانتیگراد | |
دی اچ اف | اسید هیدروفلوئوریک رقیق/آب دیونیزه (مس را حذف نمیکند) | HF/H2O1:50 | |
ارگانیکها | پیرانا (SPM) | اسید سولفوریک/پراکسید هیدروژن/آب دیونیزه | H2SO4/H2O2/H2O 3-4:1؛ 90 درجه سانتیگراد |
SC-1 (APM) | هیدروکسید آمونیوم/پراکسید هیدروژن/آب دیونیزه | NH4OH/H2O2/H2O 1:4:20؛ 80 درجه سانتیگراد | |
دی او۳ | ازن در آب دیونیزه | مخلوطهای بهینهشده O3/H2O | |
اکسید بومی | دی اچ اف | اسید هیدروفلوئوریک/آب دیونیزه رقیق شده | HF/H2O 1:100 |
بی اچ اف | اسید هیدروفلوئوریک بافر شده | NH4F/HF/H2O |
۳. روشهای رایج تمیز کردن ویفر
۱. روش تمیز کردن RCA
روش تمیز کردن RCA یکی از کلاسیکترین تکنیکهای تمیز کردن ویفر در صنعت نیمههادی است که بیش از ۴۰ سال پیش توسط شرکت RCA توسعه داده شده است. این روش در درجه اول برای حذف آلایندههای آلی و ناخالصیهای یون فلزی استفاده میشود و میتواند در دو مرحله انجام شود: SC-1 (Standard Clean 1) و SC-2 (Standard Clean 2).
تمیز کردن SC-1: این مرحله عمدتاً برای حذف آلایندهها و ذرات آلی استفاده میشود. محلول ترکیبی از آمونیاک، پراکسید هیدروژن و آب است که یک لایه نازک اکسید سیلیکون روی سطح ویفر تشکیل میدهد.
تمیز کردن SC-2: این مرحله در درجه اول برای حذف آلایندههای یون فلزی، با استفاده از مخلوطی از اسید هیدروکلریک، پراکسید هیدروژن و آب استفاده میشود. این مرحله یک لایه نازک غیرفعال روی سطح ویفر باقی میگذارد تا از آلودگی مجدد جلوگیری کند.

۲. روش تمیز کردن پیرانا (Piranha Etch Clean)
روش تمیز کردن پیرانا یک تکنیک بسیار مؤثر برای از بین بردن مواد آلی است که با استفاده از مخلوطی از اسید سولفوریک و پراکسید هیدروژن، معمولاً با نسبت ۳:۱ یا ۴:۱ انجام میشود. به دلیل خواص اکسیداتیو بسیار قوی این محلول، میتواند مقدار زیادی از مواد آلی و آلایندههای سرسخت را از بین ببرد. این روش نیاز به کنترل دقیق شرایط، به ویژه از نظر دما و غلظت، برای جلوگیری از آسیب رساندن به ویفر دارد.

تمیز کردن اولتراسونیک از اثر کاویتاسیون تولید شده توسط امواج صوتی با فرکانس بالا در یک مایع برای حذف آلایندهها از سطح ویفر استفاده میکند. در مقایسه با تمیز کردن اولتراسونیک سنتی، تمیز کردن مگاسونیک با فرکانس بالاتری عمل میکند و امکان حذف کارآمدتر ذرات با اندازه زیر میکرون را بدون ایجاد آسیب به سطح ویفر فراهم میکند.

۴. تمیز کردن با ازن
فناوری تمیز کردن با اوزون از خواص اکسیدکننده قوی اوزون برای تجزیه و حذف آلایندههای آلی از سطح ویفر استفاده میکند و در نهایت آنها را به دیاکسید کربن و آب بیضرر تبدیل میکند. این روش نیازی به استفاده از واکنشدهندههای شیمیایی گرانقیمت ندارد و آلودگی زیستمحیطی کمتری ایجاد میکند و آن را به یک فناوری نوظهور در زمینه تمیز کردن ویفر تبدیل میکند.

۴. تجهیزات فرآیند تمیز کردن ویفر
برای اطمینان از کارایی و ایمنی فرآیندهای تمیز کردن ویفر، از تجهیزات تمیزکاری پیشرفته متنوعی در تولید نیمههادیها استفاده میشود. انواع اصلی عبارتند از:
۱. تجهیزات نظافت مرطوب
تجهیزات تمیزکاری مرطوب شامل مخازن غوطهوری مختلف، مخازن تمیزکاری اولتراسونیک و خشککنهای چرخشی است. این دستگاهها نیروهای مکانیکی و واکنشگرهای شیمیایی را برای حذف آلایندهها از سطح ویفر ترکیب میکنند. مخازن غوطهوری معمولاً به سیستمهای کنترل دما مجهز هستند تا پایداری و اثربخشی محلولهای شیمیایی را تضمین کنند.
۲. تجهیزات خشکشویی
تجهیزات خشکشویی عمدتاً شامل پاککنندههای پلاسما هستند که از ذرات پرانرژی در پلاسما برای واکنش با مواد باقیمانده از سطح ویفر و حذف آنها استفاده میکنند. تمیزکاری پلاسما به ویژه برای فرآیندهایی مناسب است که نیاز به حفظ یکپارچگی سطح بدون ایجاد مواد شیمیایی دارند.
۳. سیستمهای نظافت خودکار
با گسترش مداوم تولید نیمههادیها، سیستمهای تمیزکاری خودکار به انتخاب ارجح برای تمیزکاری ویفر در مقیاس بزرگ تبدیل شدهاند. این سیستمها اغلب شامل مکانیسمهای انتقال خودکار، سیستمهای تمیزکاری چند مخزنی و سیستمهای کنترل دقیق برای اطمینان از نتایج تمیزکاری ثابت برای هر ویفر هستند.
۵. روندهای آینده
با کوچکتر شدن دستگاههای نیمههادی، فناوری تمیز کردن ویفر به سمت راهحلهای کارآمدتر و سازگارتر با محیط زیست در حال تکامل است. فناوریهای تمیز کردن آینده بر موارد زیر تمرکز خواهند داشت:
حذف ذرات زیر نانومتری: فناوریهای موجود در زمینه تمیز کردن میتوانند ذرات در مقیاس نانومتری را از بین ببرند، اما با کاهش بیشتر اندازه دستگاه، حذف ذرات زیر نانومتری به یک چالش جدید تبدیل خواهد شد.
نظافت سبز و سازگار با محیط زیست: کاهش استفاده از مواد شیمیایی مضر برای محیط زیست و توسعه روشهای نظافت سازگار با محیط زیست، مانند نظافت با ازن و نظافت با مگاسونیک، به طور فزایندهای اهمیت پیدا خواهد کرد.
سطوح بالاتر اتوماسیون و هوش: سیستمهای هوشمند، نظارت و تنظیم پارامترهای مختلف را در طول فرآیند تمیز کردن به صورت بلادرنگ امکانپذیر میکنند و باعث بهبود بیشتر اثربخشی تمیز کردن و راندمان تولید میشوند.
فناوری تمیز کردن ویفر، به عنوان یک گام حیاتی در تولید نیمههادیها، نقش حیاتی در تضمین تمیزی سطوح ویفر برای فرآیندهای بعدی ایفا میکند. ترکیب روشهای مختلف تمیز کردن، آلایندهها را به طور مؤثر از بین میبرد و سطح زیرلایه تمیزی را برای مراحل بعدی فراهم میکند. با پیشرفت فناوری، فرآیندهای تمیز کردن همچنان بهینه میشوند تا تقاضا برای دقت بالاتر و نرخ نقص کمتر در تولید نیمههادیها را برآورده کنند.
زمان ارسال: اکتبر-08-2024